高低頻介電常數測試儀(20HZ-2MHZ)

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高低頻介電常數測試儀

GCSTD-D

性能特點

測試頻率20Hz~2MHz,10mHz步進
測試電平10mV~5V, 1mV步進
基本準確度0.1%
最高達200次/s的測量速度
320×240點陣大型圖形LCD顯示
五位讀數分辨率
可測量22種阻抗參數組合
四種信號源輸出阻抗
10點列表掃描測試功能
內部自帶直流偏置源
外置偏流源至40A(配置兩臺TH1776)(選件)
電壓或電流的自動電平調整(ALC)功能
V、I測試信號電平監視功能
圖形掃描分析功能
20組內部儀器設定可供儲存/讀取
內建比較器,10檔分選及計數功能
多種通訊接口方便用戶聯機使用
2m/4m測試電纜擴展(選件)
中英文可選操作界面
可通過USB HOST 自動升級儀器工作程序

 簡要介紹

廣泛的測量對象

無源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。

半導體元件:變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數分析

其它元件:印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估

介質材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估

磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

半導體材料半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性

液晶材料:液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性

技術參數

測試參數

C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率


20 Hz~2MHz,10mHz步進

測試信號電

f≤1MHz

10mV~5V,±(10%+10mV)

f>1MHz

10mV~1V,±(20%+10mV)

輸出阻抗

10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω  

基本準確度

0.1%


L

0.0001 uH ~ 9.9999kH


C

0.0001 pF ~ 9.9999F


R,X,Z,DCR

0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ

顯示范圍

Y, B, G

0.0001 nS ~ 99.999 S


D

0.0001 ~ 9.9999


Q

0.0001 ~ 99999


θ

-179.99°~ 179.99°

測量速度

快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準功能

開路 / 短路點頻、掃頻清零,負載校準

等效方式

串聯方式, 并聯方式

量程方式

自動, 保持

顯示方式

直讀, Δ, Δ%

觸發方式

內部, 手動, 外部, 總線  

內部直流偏

電壓模式

-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源

電流模式(內阻為50Ω)

-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能

10檔分選及計數功能

顯示器

320×240點陣圖形LCD顯示

存儲器

可保存20組儀器設定值


USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)


USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口

LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB(選件)

 

 


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